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對于失效芯片進行分析,找出問題后可用FIB對芯片線路進行修改,然后對芯片進行測試、驗證,以便確定問題的癥結和修改方案。利用FIB修改芯片可以減少不成功的設計方案的流片次數,縮短研發時間和周期、降低研發成本。